Defects in MOFs: A thorough characterization

Petkov, P. S.; Vayssilov, G. N.; Liu, J.; Shekhah, O.; Wang, Y.; Wöll, C.; Heine, T.

doi:10.1002/cphc.201200222

Defects in MOFs: A thorough characterization

Petkov, P. S.; Vayssilov, G. N.; Liu, J. ¹; Shekhah, O. ¹; Wang, Y.; Wöll, C. ¹; Heine, T.
¹ Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1002/cphc.201200222

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110087583
HGF-Programm	47.04.02 (POF II, LK 01) Biofilme IFG
Erschienen in	ChemPhysChem
Band	13
Seiten	2025-2029
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science Scopus

Repository KITopen

Defects in MOFs: A thorough characterization