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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/cphc.201200222

Defects in MOFs: A thorough characterization

Petkov, P.S.; Vayssilov, G.N.; Liu, J.; Shekhah, O.; Wang, Y.; Wöll, C.; Heine, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110087583
HGF-Programm 47.04.02; LK 01
Erschienen in ChemPhysChem
Band 13
Seiten 2025-2029
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