Accurate segmentation of dense nanoparticles by partially discrete electron tomography
Roelandts, T.; Batenburg, K. J.; Biermans, E.; Kübel, C.
1; Bals, S.; Sijbers, J.
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Bals, S.; Sijbers, J.1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110087602 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erschienen in | Ultramicroscopy |
| Band | 114 |
| Seiten | 96-105 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |