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Accurate segmentation of dense nanoparticles by partially discrete electron tomography

Roelandts, T.; Batenburg, K. J.; Biermans, E.; Kübel, C. ORCID iD icon 1; Bals, S.; Sijbers, J.
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2011.12.003
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Zitationen: 39
Web of Science
Zitationen: 35
Dimensions
Zitationen: 38
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110087602
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 114
Seiten 96-105
Nachgewiesen in Dimensions
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