Ion-beam-treated strained AlGaN/GaN multi-quantum wells: HAADF-STEM, HRTEM, Raman and HRXRD characterizations
Devaraju, G.; Pathak, A. P.; Rao, N. S.; Saikiran, V.; Wang, D.
1; Scherer, T. 1; Mishra, A. K. 1; Kübel, C.
1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Scherer, T. 1; Mishra, A. K. 1; Kübel, C.
11 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110088237 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erschienen in | Radiation Effects and Defects in Solids |
| Band | 167 |
| Seiten | 612-620 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |