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Probing the nature of defects in graphene by Raman spectroscopy

Eckmann, A.; Felten, A.; Mishchenko, A.; Britnell, L.; Krupke, R.; Novoselov, K.S.; Casiraghi, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110088253
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erschienen in Nano Letters
Band 12
Seiten 3925-3030
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