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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/nl300901a
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Zitationen: 613
Web of Science
Zitationen: 586

Probing the nature of defects in graphene by Raman spectroscopy

Eckmann, A.; Felten, A.; Mishchenko, A.; Britnell, L.; Krupke, R.; Novoselov, K.S.; Casiraghi, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-6984, 1530-6992
KITopen ID: 110088253
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erschienen in Nano letters
Band 12
Heft 8
Seiten 3925-3030
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