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Probing the nature of defects in graphene by Raman spectroscopy

Eckmann, A.; Felten, A. 1; Mishchenko, A.; Britnell, L.; Krupke, R. 1; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/nl300901a
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Zitationen: 1394
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Zitationen: 1330
Dimensions
Zitationen: 1418
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-6984, 1530-6992
KITopen-ID: 110088253
HGF-Programm 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures
Erschienen in Nano letters
Verlag American Chemical Society (ACS)
Band 12
Heft 8
Seiten 3925-3030
Nachgewiesen in Dimensions
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