Probing the nature of defects in graphene by Raman spectroscopy
Eckmann, A.; Felten, A. 1; Mishchenko, A.; Britnell, L.; Krupke, R.
1; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1530-6984, 1530-6992 KITopen-ID: 110088253 |
| HGF-Programm | 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures |
| Erschienen in | Nano letters |
| Verlag | American Chemical Society (ACS) |
| Band | 12 |
| Heft | 8 |
| Seiten | 3925-3030 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science OpenAlex |