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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3139/146.110664

X-ray phase contrast and fluorescence nanotomography for material studies

Suhonen, H.; Xu, F.; Helfen, L.; Ferrero, C.; Vladimirov, P.; Cloetens, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110088950
HGF-Programm 31.40.01; LK 01
Erschienen in International Journal of Materials Research
Band 103
Seiten 179-183
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