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X-ray phase contrast and fluorescence nanotomography for material studies

Suhonen, H.; Xu, F.; Helfen, L.; Ferrero, C.; Vladimirov, P.; Cloetens, P.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.3139/146.110664
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Seitenaufrufe: 2
seit 28.04.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110088950
HGF-Programm 31.40.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in International Journal of Materials Research
Band 103
Seiten 179-183
Nachgewiesen in Scopus
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