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Tunig the instability in static mode atomic force spectroscopy as obtained in an AFM by applying an electric field between the tip and the substrate

Biswas, S.; Raychaudhuri, A. K.; Sreeram, P. A.; Dietzel, D. 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.07.025
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Zitationen: 2
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110089968
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 122
Seiten 19-25
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