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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.07.025

Tunig the instability in static mode atomic force spectroscopy as obtained in an AFM by applying an electric field between the tip and the substrate

Biswas, S.; Raychaudhuri, A.K.; Sreeram, P.A.; Dietzel, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110089968
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 122
Seiten 19-25
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