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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.3.99

Advanced atomic force microscopy techniques

Glatzel, T.; Hölscher, H.; Schimmel, T.; Baykara, M.Z.; Schwarz, U.D.; Garcia, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110089996
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 3
Seiten 893-894
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