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Advanced atomic force microscopy techniques

Glatzel, T.; Hölscher, H.; Schimmel, T.; Baykara, M.Z.; Schwarz, U.D.; Garcia, R.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.3.99
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Zitationen: 9
Web of Science
Zitationen: 7
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seit 27.04.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110089996
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 3
Seiten 893-894
Nachgewiesen in Web of Science
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