Advanced atomic force microscopy techniques
Glatzel, T.; Hölscher, H.
1; Schimmel, T. 2; Baykara, M. Z.; Schwarz, U. D.; Garcia, R.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Schimmel, T. 2; Baykara, M. Z.; Schwarz, U. D.; Garcia, R.1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110089996 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erschienen in | Beilstein Journal of Nanotechnology |
| Band | 3 |
| Seiten | 893-894 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |