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Advanced atomic force microscopy techniques

Glatzel, T.; Hölscher, H. 1; Schimmel, T. 2; Baykara, M. Z.; Schwarz, U. D.; Garcia, R.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.3.99
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Zitationen: 12
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Zitationen: 11
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Zitationen: 15
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110089996
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 3
Seiten 893-894
Nachgewiesen in Dimensions
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