KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Advanced atomic force microscopy techniques

Glatzel, T.; Hölscher, H. ORCID iD icon 1; Schimmel, T. 2; Baykara, M. Z.; Schwarz, U. D.; Garcia, R.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.3.99
Scopus
Zitationen: 15
Web of Science
Zitationen: 12
Dimensions
Zitationen: 16
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110089996
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 3
Seiten 893-894
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page