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Critical current in planar SNS Josephson junctions

Golikova, T. E.; Hübler, F. 1; Beckmann, D. 1; Klenov, N. V.; Bakurskiy, S. V.; Kupriyanov, M. Yu.; Batov, I. E.; Ryazanov, V. V.
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1134/S0021364012220043
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Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-3640
KITopen-ID: 110090505
HGF-Programm 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures
Erschienen in JETP Letters
Verlag Springer Verlag
Band 96
Heft 10
Seiten 668-673
Nachgewiesen in Dimensions
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