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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/jrs.4201
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Evaluation method for Raman depolarization measurements including geometrical effects and polarization aberrations

Schlösser, M.; James, T.M.; Fischer, S.; Lewis, R.J.; Bornschein, B.; Telle, H.H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110090710
HGF-Programm 51.54.01; LK 02
Erschienen in Journal of Raman Spectroscopy
Band 44
Seiten 453-462
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