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Influence of the excitation energy on absorption effects in total reflection X-ray fluorescence analysis

Horntrich, C.; Kregsamer, P.; Smolek, S.; Maderitsch, A.; Wobrauschek, P.; Simon, R. 1; Nutsch, A.; Knoerrd, M.; Strelia, C.
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1039/C1JA10146C
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Zitationen: 8
Web of Science
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Zitationen: 8
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110091545
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers.
Erschienen in Journal of Analytical Atomic Spectrometry
Band 27
Seiten 340-345
Nachgewiesen in Scopus
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Web of Science
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