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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1039/C1JA10146C

Influence of the excitation energy on absorption effects in total reflection X-ray fluorescence analysis

Horntrich, C.; Kregsamer, P.; Smolek, S.; Maderitsch, A.; Wobrauschek, P.; Simon, R.; Nutsch, A.; Knoerrd, M.; Strelia, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110091545
HGF-Programm 55.51.10; LK 02
Erschienen in Journal of Analytical Atomic Spectrometry
Band 27
Seiten 340-345
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