Detailed study of defects in thin fullerite films
Graivoronska, K. O.; Klimenkov, M.
1; Solonin, Yu. M.; Nepijko, S. A.; Schönhense, G.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Solonin, Yu. M.; Nepijko, S. A.; Schönhense, G.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110091586 |
| HGF-Programm | 31.40.03 (POF II, LK 01) Materialentwicklung |
| Erschienen in | Crystal Research and Technology |
| Band | 47 |
| Seiten | 1255-1268 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |