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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/crat.201200304

Detailed study of defects in thin fullerite films

Graivoronska, K.O.; Klimenkov, M.; Solonin, Yu.M.; Nepijko, S.A.; Schönhense, G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110091586
HGF-Programm 31.40.03; LK 01
Erschienen in Crystal Research and Technology
Band 47
Seiten 1255-1268
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