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Detailed study of defects in thin fullerite films

Graivoronska, K. O.; Klimenkov, M. 1; Solonin, Yu. M.; Nepijko, S. A.; Schönhense, G.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/crat.201200304
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Zitationen: 1
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110091586
HGF-Programm 31.40.03 (POF II, LK 01) Materialentwicklung
Erschienen in Crystal Research and Technology
Band 47
Seiten 1255-1268
Nachgewiesen in Scopus
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