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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jnucmat.2013.01.035
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Modeling of the Impact of runaway electrons on the ILW in JET

Bazylev, B.; Arnoux, G.; Brezinsek, S.; Igitkhanov, Yu.; Lehnen, M.; Riccardo, V.; Kiptily, V.; JET EFDA Contributors



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110092020
HGF-Programm 31.10.01; LK 01
Erschienen in Journal of Nuclear Materials
Band 438
Seiten S237-S240
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