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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.engfracmech.2012.07.001
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Reliability prediction for contact strength and fatigue of silicon nitride high strength components using an R-curve approach

Riesch-Oppermann, H.; Scherrer-Rudiy, S.; Härtelt, M.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110093018
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01)
Erschienen in Engineering Fracture Mechanics
Band 100
Seiten 52-62
Nachgewiesen in Web of Science
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