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Reliability prediction for contact strength and fatigue of silicon nitride high strength components using an R-curve approach

Riesch-Oppermann, H. 1; Scherrer-Rudiy, S. 1; Härtelt, M. 1; Kraft, O. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.engfracmech.2012.07.001
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110093018
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in Engineering Fracture Mechanics
Band 100
Seiten 52-62
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