Reliability prediction for contact strength and fatigue of silicon nitride high strength components using an R-curve approach
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110093018 |
| HGF-Programm | 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials |
| Erschienen in | Engineering Fracture Mechanics |
| Band | 100 |
| Seiten | 52-62 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |