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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4819836
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Zitationen: 52
Web of Science
Zitationen: 47

On the dielectric and optical properties of surface-anchored metal-organic frameworks: A study on epitaxially grown thin films

Redel, E.; Wang, Z.; Walheim, S.; Liu, J.; Gliemann, H.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110093115
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 103
Seiten 091903/1-5
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