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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.tsf.2013.01.015
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Comparative studies of laser annealing technique and furnace annealing by X-ray diffraction and Raman analysis of lithium manganese oxide thin films for lithium-ion batteries

Pröll, J.; Weidler, P.G.; Kohler, R.; Mangang, A.; Heißler, S.; Seifert, H.J.; Pfleging, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0040-6090, 1879-2731
KITopen ID: 110093313
HGF-Programm 43.15.02; LK 01
Erschienen in Thin solid films
Band 531
Seiten 160-171
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