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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.12.019
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Combination of in situ straining and ACOM TEM: A novel method for analysis of plastic deformation of nanocrystalline metals

Kobler, A.; Kashiwar, A.; Hahn, H.; Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen ID: 110093581
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 128
Seiten 68-81
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