Combination of in situ straining and ACOM TEM: A novel method for analysis of plastic deformation of nanocrystalline metals
Kobler, A. 1; Kashiwar, A.; Hahn, H. 1; Kübel, C.
2
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
21 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0304-3991, 1879-2723 KITopen-ID: 110093581 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erschienen in | Ultramicroscopy |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 128 |
| Seiten | 68-81 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Web of Science Dimensions |
Seitenaufrufe: 135
seit 07.05.2018
seit 07.05.2018