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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.110.066101
Web of Science
Zitationen: 18

Differentiation of deformation modes in nanocrystalline Pd films inferred from peak asymmetry evolution using in situ X-ray diffraction

Lohmiller, J.; Baumbusch, R.; Kraft, O.; Gruber, P.A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110094243
HGF-Programm 43.12.03; LK 01
Erschienen in Physical Review Letters
Band 110
Seiten 066101/1-5
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