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Differentiation of deformation modes in nanocrystalline Pd films inferred from peak asymmetry evolution using in situ X-ray diffraction

Lohmiller, J. 1; Baumbusch, R. 1; Kraft, O. 1; Gruber, P. A. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.110.066101
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Zitationen: 28
Web of Science
Zitationen: 26
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Zitationen: 29
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110094243
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in Physical Review Letters
Band 110
Seiten 066101/1-5
Nachgewiesen in Web of Science
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