KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Differentiation of deformation modes in nanocrystalline Pd films inferred from peak asymmetry evolution using in situ X-ray diffraction

Lohmiller, J. 1; Baumbusch, R. 1; Kraft, O. 1; Gruber, P. A. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.110.066101
Scopus
Zitationen: 32
Web of Science
Zitationen: 30
Dimensions
Zitationen: 33
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110094243
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in Physical Review Letters
Band 110
Seiten 066101/1-5
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page