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X-ray full field microscopy at 30 KeV

Marschall, F.; Last, A.; Simon, M.; Kluge, M.; Nazmov, V.; Vogt, H.; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/110095638
Veröffentlicht am 19.12.2017
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/499/1/012007
Scopus
Zitationen: 14
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588, 1742-6596
urn:nbn:de:swb:90-AAA1100956388
KITopen-ID: 110095638
HGF-Programm 43.04.03 (POF II, LK 01)
Erschienen in Journal of physics / Conference Series
Band 499
Heft 1
Seiten Art.Nr.: 012007/1-6
Nachgewiesen in Scopus
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