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X-ray full field microscopy at 30 KeV

Marschall, F. 1; Last, A. 1; Simon, M.; Kluge, M. 1; Nazmov, V. 1; Vogt, H. 1; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/110095638
Veröffentlicht am 19.12.2017
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1742-6596/499/1/012007
Scopus
Zitationen: 25
Dimensions
Zitationen: 24
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1742-6588, 1742-6596
urn:nbn:de:swb:90-AAA1100956388
KITopen-ID: 110095638
HGF-Programm 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik
Erschienen in Journal of physics / Conference Series
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 499
Heft 1
Seiten Art.Nr.: 012007/1-6
Nachgewiesen in Scopus
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