X-ray full field microscopy at 30 KeV
Marschall, F. 1; Last, A.
1; Simon, M.; Kluge, M. 1; Nazmov, V. 1; Vogt, H. 1; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Simon, M.; Kluge, M. 1; Nazmov, V. 1; Vogt, H. 1; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J. 11 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1742-6588, 1742-6596 urn:nbn:de:swb:90-AAA1100956388 KITopen-ID: 110095638 |
| HGF-Programm | 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik |
| Erschienen in | Journal of physics / Conference Series |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 499 |
| Heft | 1 |
| Seiten | Art.Nr.: 012007/1-6 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Scopus |