Influence of a passivation layer on strain relaxation and lattice disorder in thin nano-crystalline Pt films during in-situ annealing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0040-6090, 1879-2731 KITopen-ID: 110096771 |
| HGF-Programm | 43.15.02 (POF II, LK 01) Storage of electrical energy |
| Erschienen in | Thin solid films |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 565 |
| Seiten | 79-83 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions OpenAlex Scopus |