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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4890090
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Zitationen: 5
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Zitationen: 6

Two-dimensional ultra-small angle X-ray scattering with grating interferometry

Modregger, P.; Rutishauser, S.; Meiser, J.; David, C.; Stampanoni, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen ID: 110096778
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Applied physics letters
Band 105
Heft 2
Seiten 024102/1-4
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