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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/jp507773f
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Zitationen: 2
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Zitationen: 1

Direct evidence of the temperature-induced molecular reorientation in tetracene thin films on AlOₓ/Ni₃Al(111)

Naboka, M.; Soubatch, S.; Nefedov, A.; Tautz, F.S.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1932-7447, 1932-7455
KITopen ID: 110097354
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erschienen in The journal of physical chemistry <Washington, DC> / C
Band 118
Seiten 22678-22682
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