KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/jp507773f
Scopus
Zitationen: 1

Direct evidence of the temperature-induced molecular reorientation in tetracene thin films on AlOₓ/Ni₃Al(111)

Naboka, M.; Soubatch, S.; Nefedov, A.; Tautz, F.S.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110097354
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erschienen in Journal of Physical Chemistry C
Band 118
Seiten 22678-22682
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page