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Decomposition of amorphous Si₂C by thermal annealing

Gustus, R.; Gruber, W.; Wegewitz, L.; Geckle, U. 1; Prang, R. 2,3; Kübel, C. ORCID iD icon 2,3; Schmidt, H.; Maus-Friedrichs, W.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.tsf.2013.12.033
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Zitationen: 9
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Zitationen: 9
Dimensions
Zitationen: 9
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0040-6090, 1879-2731
KITopen-ID: 110097412
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in Thin solid films
Verlag Elsevier
Band 552
Seiten 232-240
Nachgewiesen in Dimensions
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