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Combined scanning transmission electron microscopy tilt- and focal series

Dahmen, T.; Baudoin, J. P.; Lupini, A. R.; Kübel, C. ORCID iD icon 1; Slusallek, P.; Jonge, N. de
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927614000075
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Zitationen: 18
Web of Science
Zitationen: 18
Dimensions
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 110097872
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 20
Seiten 548-560
Nachgewiesen in Dimensions
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