Combined scanning transmission electron microscopy tilt- and focal series
Dahmen, T.; Baudoin, J. P.; Lupini, A. R.; Kübel, C.
1; Slusallek, P.; Jonge, N. de
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Slusallek, P.; Jonge, N. de1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 110097872 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 20 |
| Seiten | 548-560 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |