KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927614000075
Scopus
Zitationen: 15
Web of Science
Zitationen: 14

Combined scanning transmission electron microscopy tilt- and focal series

Dahmen, T.; Baudoin, J.P.; Lupini, A.R.; Kübel, C.; Slusallek, P.; de Jonge, N.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 110097872
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 20
Seiten 548-560
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page