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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600576714021256
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Full-field X-ray diffraction microscopy using polymeric compound refractive lenses

Hilhorst, J.; Marschall, F.; Tran Thi, T.N.; Last, A.; Schülli, T.U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898, 1600-5767
KITopen ID: 110098177
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Journal of applied crystallography
Band 47
Heft 6
Seiten 1882-1888
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