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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2014.09.005
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Growth and structure characterization of EuSi₂ films and nanoislands on vicinal Si(001) surface

Seiler, A.; Bauder, O.; Ibrahimkutty, S.; Pradip, R.; Prüßmann, T.; Vitova, T.; Fiederle, M.; Baumbach, T.; Stankov, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110098708
HGF-Programm 32.27.04; LK 01
Erschienen in Journal of Crystal Growth
Band 407
Seiten 74-77
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