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Growth and structure characterization of EuSi₂ films and nanoislands on vicinal Si(001) surface

Seiler, A. 1,2; Bauder, O. 1,2; Ibrahimkutty, S. 1,2; Pradip, R. 1,2; Prüßmann, T. ORCID iD icon 3; Vitova, T. ORCID iD icon 3; Fiederle, M. 2; Baumbach, T. 1,2; Stankov, S. 1,2
1 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Nukleare Entsorgung (INE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2014.09.005
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Zitationen: 8
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Zitationen: 8
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Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-0248, 1873-5002
KITopen-ID: 110098708
HGF-Programm 32.27.04 (POF II, LK 01) Entwickl.u.Anpass.v.Speziationsmeth.
Erschienen in Journal of crystal growth
Verlag Elsevier
Band 407
Seiten 74-77
Nachgewiesen in Scopus
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