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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.radmeas.2013.12.005
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Zitationen: 5
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Zitationen: 6

Investigation of the luminescence, crystallographic and spatial resolution properties of LSO:Tb scintillating layers used for X-ray imaging applications

Cecilia, A.; Jary, V.; Nikl, M.; Mihokova, E.; Hänschke, D.; Hamann, E.; Douissard, P.A.; Rack, A.; Martin, T.; Krause, B.; Grigorievc, D.; Baumbach, T.; Fiederle, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1350-4487
KITopen ID: 110099109
HGF-Programm 55.51.10; LK 02
Erschienen in Radiation Measurements
Band 62
Seiten 28-34
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