Investigation of the luminescence, crystallographic and spatial resolution properties of LSO:Tb scintillating layers used for X-ray imaging applications

Cecilia, A.; Jary, V.; Nikl, M.; Mihokova, E.; Hänschke, D.; Hamann, E.; Douissard, P.A.; Rack, A.; Martin, T.; Krause, B.; Grigorievc, D.; Baumbach, T.; Fiederle, M.

doi:10.1016/j.radmeas.2013.12.005

Investigation of the luminescence, crystallographic and spatial resolution properties of LSO:Tb scintillating layers used for X-ray imaging applications

Cecilia, A.; Jary, V.; Nikl, M.; Mihokova, E.; Hänschke, D.; Hamann, E.; Douissard, P.A.; Rack, A.; Martin, T.; Krause, B.; Grigorievc, D.; Baumbach, T.; Fiederle, M.

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DOI: 10.1016/j.radmeas.2013.12.005

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1350-4487 KITopen-ID: 110099109
HGF-Programm	55.51.10 (POF II, LK 02)
Erschienen in	Radiation Measurements
Band	62
Seiten	28-34
Nachgewiesen in	Scopus Web of Science

Repository KITopen

Investigation of the luminescence, crystallographic and spatial resolution properties of LSO:Tb scintillating layers used for X-ray imaging applications