Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface
Horsley, K.; Beal, R.J.; Wilks, R.G.; Blum, M.; Häming, M.; Hanks, D.A.; Weir, M.G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L.; Bär, M.; Potter Jr., B.G.; Heske, C.
Zugehörige Institution(en) am KIT |
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
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Publikationstyp |
Zeitschriftenaufsatz |
Jahr |
2014 |
Sprache |
Englisch |
Identifikator |
KITopen ID: 110099143 |
HGF-Programm |
55.52.10; LK 01 |
Erschienen in |
Journal of Applied Physics |
Band |
116 |
Seiten |
024312/1-12 |