Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface

Horsley, K.; Beal, R. J.; Wilks, R. G.; Blum, M.; Häming, M.; Hanks, D. A.; Weir, M. G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L.; Bär, M.; Potter Jr., B. G.; Heske, C.

doi:10.1063/1.4890235

Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface

Horsley, K.; Beal, R. J.; Wilks, R. G.; Blum, M.; Häming, M. ¹; Hanks, D. A.; Weir, M. G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L. ¹^,2; Bär, M.; Potter Jr., B. G.; Heske, C. ¹^,2^,3
¹ Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
³ Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102 KITopen-ID: 110099143
HGF-Programm	55.52.10 (POF II, LK 01) Micro and Nano Science and Technology
Erschienen in	Journal of applied physics
Verlag	American Institute of Physics (AIP)
Band	116
Seiten	024312/1-12
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus Web of Science

Repository KITopen

Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface