Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface
Horsley, K.; Beal, R. J.; Wilks, R. G.; Blum, M.; Häming, M. 1; Hanks, D. A.; Weir, M. G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L. 1,2; Bär, M.; Potter Jr., B. G.; Heske, C.
1,2,3
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,2,31 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102 KITopen-ID: 110099143 |
| HGF-Programm | 55.52.10 (POF II, LK 01) Micro and Nano Science and Technology |
| Erschienen in | Journal of applied physics |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 116 |
| Seiten | 024312/1-12 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |