KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface

Horsley, K.; Beal, R. J.; Wilks, R. G.; Blum, M.; Häming, M. 1; Hanks, D. A.; Weir, M. G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L. 1,2; Bär, M.; Potter Jr., B. G.; Heske, C. 1,2,3
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4890235
Scopus
Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102
KITopen-ID: 110099143
HGF-Programm 55.52.10 (POF II, LK 01) Micro and Nano Science and Technology
Erschienen in Journal of applied physics
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 116
Seiten 024312/1-12
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page