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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4890235
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Zitationen: 2
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Zitationen: 2

Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface

Horsley, K.; Beal, R.J.; Wilks, R.G.; Blum, M.; Häming, M.; Hanks, D.A.; Weir, M.G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L.; Bär, M.; Potter Jr., B.G.; Heske, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110099143
HGF-Programm 55.52.10; LK 01
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 116
Seiten 024312/1-12
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