Impact of annealing on the chemical structure and morphology of the thin-film CdTe/ZnO interface

Horsley, K.; Beal, R.J.; Wilks, R.G.; Blum, M.; Häming, M.; Hanks, D.A.; Weir, M.G.; Hofmann, T.; Weinhardt, L.; Bär, M.; Potter Jr., B.G.; Heske, C.

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4890235

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102 KITopen-ID: 110099143
HGF-Programm	55.52.10 (POF II, LK 01)
Erschienen in	Journal of applied physics
Band	116
Seiten	024312/1-12
Nachgewiesen in	Web of Science Scopus