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Near-surface density profiling of Fe ion irradiated Si (100) using extremely asymmetric x-ray diffraction by variation of the wavelength

Khanbabaee, B.; Facsko, S.; Doyle, S.; Pietsch, U.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4899068
Scopus
Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118, 1520-8842
KITopen-ID: 110099208
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02)
Erschienen in Applied physics letters
Band 105
Seiten 163101/1-5
Nachgewiesen in Web of Science
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