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Three-dimensional reciprocal space mapping of diffuse scattering for the study of stacking faults in semipolar (1122) GaN layers grown from the sidewall of an r-patterned sapphire substrate

Lazarev, S. 1; Bauer, S. 1; Meisch, T.; Bauer, M.; Tischer, I.; Barchuk, M.; Thonke, K.; Holy, V.; Scholz, F.; Baumbach, T. 1
1 ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S0021889813020438
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Zitationen: 11
Web of Science
Zitationen: 11
Dimensions
Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898, 1600-5767
KITopen-ID: 110099296
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers.
Erschienen in Journal of applied crystallography
Verlag International Union of Crystallography
Band 46
Heft 5
Seiten 1425-1433
Nachgewiesen in Dimensions
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