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Three-dimensional reciprocal space mapping of diffuse scattering for the study of stacking faults in semipolar (1122) GaN layers grown from the sidewall of an r-patterned sapphire substrate

Lazarev, S.; Bauer, S.; Meisch, T.; Bauer, M.; Tischer, I.; Barchuk, M.; Thonke, K.; Holy, V.; Scholz, F.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110099296
HGF-Programm 55.51.10; LK 02
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Band 46
Seiten 1425-1433
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