Three-dimensional reciprocal space mapping of diffuse scattering for the study of stacking faults in semipolar (1122) GaN layers grown from the sidewall of an r-patterned sapphire substrate
| Zugehörige Institution(en) am KIT | ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8898, 1600-5767 KITopen-ID: 110099296 |
| HGF-Programm | 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers. |
| Erschienen in | Journal of applied crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 46 |
| Heft | 5 |
| Seiten | 1425-1433 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |