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X-ray diffraction imaging for predictive metrology of crack propagation in 450-mm diameter silicon wafers

Tanner, B. K.; Wittge, J.; Vagovic, P. 1; Baumbach, T. 1; Allen, D.; McNally, P. J.; Bytheway, R.; Jacques, D.; Fossati, M. C.; Bowen, D. K.; Garagorri, J.; Elizalde, M. R.; Danilewsky, A. N.
1 Institut für Synchrotronstrahlung (ISS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S0885715613000122
Scopus
Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 8
Dimensions
Zitationen: 9
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0885-7156, 1945-7413
KITopen-ID: 110099314
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers.
Erschienen in Powder diffraction
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 28
Seiten 95-99
Nachgewiesen in Dimensions
OpenAlex
Web of Science
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