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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00339-013-7687-2
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High-resolution non-invasive 3D imaging of paint microstructure by synchrotron-based X-ray laminography

Reischig, P.; Helfen, L.; Wallert, A.; Baumbach, T.; Dik, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110099559
HGF-Programm 55.52.10; LK 01
Erschienen in Applied Physics A
Band 111
Seiten 983-995
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