High-resolution non-invasive 3D imaging of paint microstructure by synchrotron-based X-ray laminography

Reischig, P.; Helfen, L.; Wallert, A.; Baumbach, T.; Dik, J.

Zugehörige Institution(en) am KIT	ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	DOI: 10.1007/s00339-013-7687-2 KITopen ID: 110099559
HGF-Programm	55.52.10; LK 01
Erschienen in	Applied Physics A
Band	111
Seiten	983-995