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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/crat.201400075
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Zitationen: 3

Relative angular precision in electron backscatter diffraction: A comparison between cross correlation and Hough transform based analysis

Chekhonin, P.; Engelmann, J.; Oertel, C.G.; Holzapfel, B.; Skrotzki, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110099655
HGF-Programm 34.03.02; LK 01
Erschienen in Crystal Research and Technology
Band 6
Seiten 435-439
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