Relative angular precision in electron backscatter diffraction: A comparison between cross correlation and Hough transform based analysis
Chekhonin, P.; Engelmann, J.; Oertel, C. G.; Holzapfel, B.
1; Skrotzki, W.
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Skrotzki, W.1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0023-4753, 0232-1300, 1521-4079 KITopen-ID: 110099655 |
| HGF-Programm | 34.03.02 (POF II, LK 01) Netzbetriebsmittel |
| Erschienen in | Crystal research and technology |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Band | 6 |
| Seiten | 435-439 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Web of Science Dimensions Scopus |