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Relative angular precision in electron backscatter diffraction: A comparison between cross correlation and Hough transform based analysis

Chekhonin, P.; Engelmann, J.; Oertel, C. G.; Holzapfel, B. ORCID iD icon 1; Skrotzki, W.
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/crat.201400075
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Zitationen: 4
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Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0023-4753, 0232-1300, 1521-4079
KITopen-ID: 110099655
HGF-Programm 34.03.02 (POF II, LK 01) Netzbetriebsmittel
Erschienen in Crystal research and technology
Verlag Wiley-VCH Verlag
Band 6
Seiten 435-439
Nachgewiesen in Dimensions
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