KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/crat.201400075
Scopus
Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 4

Relative angular precision in electron backscatter diffraction: A comparison between cross correlation and Hough transform based analysis

Chekhonin, P.; Engelmann, J.; Oertel, C.G.; Holzapfel, B.; Skrotzki, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0023-4753, 0232-1300, 1521-4079, 1521-4079 = Crystal research and technology (1981. Internet)
KITopen ID: 110099655
HGF-Programm 34.03.02; LK 01
Erschienen in Crystal research and technology
Band 6
Seiten 435-439
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page