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Residual layer-free reverse nanoimprint lithography on silicon and metal-coated substrates

Fernandez, A.; Medina, J.; Benkel, C. 1; Guttmann, M. 1; Bilenberg, B.; Thamdrup, L. H.; Nielsen, T.; Sotomayor Torres, C. M.; Kehagias, N.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.mee.2014.11.025
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Zitationen: 17
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0167-9317, 1873-5568
KITopen-ID: 110099999
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Erschienen in Microelectronic engineering
Verlag Elsevier
Band 141
Seiten 56-61
Nachgewiesen in Dimensions
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