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Relative intensity correction of Raman systems with National Institute of Standards and Technology standard reference material 2242 in 90⁰-scattering geometry

Schlösser, M.; Rupp, S.; Brunst, T.; James, T.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1366/14-07748
KITopen ID: 110100538
HGF-Programm 51.03.01; LK 01
Erschienen in Applied Spectroscopy
Band 69
Seiten 597-607
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