Investigation of element distribution and homogeneity of TXRF samples using SR-micro-XRF to validate the use of an internal standard and improve external standard quantification

Horntrich, C.; Smolek, S.; Maderitsch, A.; Simon, R.; Kregsamer, P.; Streli, C.

doi:10.1007/s00216-010-4592-9

Investigation of element distribution and homogeneity of TXRF samples using SR-micro-XRF to validate the use of an internal standard and improve external standard quantification

Horntrich, C.; Smolek, S.; Maderitsch, A.; Simon, R. ¹; Kregsamer, P.; Streli, C.
¹ Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00216-010-4592-9

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110100604
HGF-Programm	55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers.
Erschienen in	Analytical and Bioanalytical Chemistry
Band	400
Seiten	2649-2654
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus Web of Science

Repository KITopen

Investigation of element distribution and homogeneity of TXRF samples using SR-micro-XRF to validate the use of an internal standard and improve external standard quantification