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Investigation of element distribution and homogeneity of TXRF samples using SR-micro-XRF to validate the use of an internal standard and improve external standard quantification

Horntrich, C.; Smolek, S.; Maderitsch, A.; Simon, R. 1; Kregsamer, P.; Streli, C.
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00216-010-4592-9
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Zitationen: 17
Web of Science
Zitationen: 16
Dimensions
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110100604
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers.
Erschienen in Analytical and Bioanalytical Chemistry
Band 400
Seiten 2649-2654
Nachgewiesen in Dimensions
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