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Investigation of element distribution and homogeneity of TXRF samples using SR-micro-XRF to validate the use of an internal standard and improve external standard quantification

Horntrich, C.; Smolek, S.; Maderitsch, A.; Simon, R.; Kregsamer, P.; Streli, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1007/s00216-010-4592-9
KITopen ID: 110100604
HGF-Programm 55.51.10; LK 02
Erschienen in Analytical and Bioanalytical Chemistry
Band 400
Seiten 2649-2654
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