Rapid diagnosis of electromigration induced failure time of Pb-free flip chip solder joints by high resolution synchrotron radiation laminography
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110100606 |
| HGF-Programm | 55.52.10 (POF II, LK 01) Micro and Nano Science and Technology |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Band | 99 |
| Seiten | 082114/1-3 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |