Grazing-incidence x-ray diffraction from GaN epitaxial layers with threading dislocations
Barchuk, M.; Holy, V.; Miljevic, B. 1; Krause, B.
1; Baumbach, T. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Baumbach, T. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110100622 |
| HGF-Programm | 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers. |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Band | 98 |
| Seiten | 021912/1-3 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus Web of Science |