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Grazing-incidence x-ray diffraction from GaN epitaxial layers with threading dislocations

Barchuk, M.; Holy, V.; Miljevic, B. 1; Krause, B. ORCID iD icon 1; Baumbach, T. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3543842
Scopus
Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 8
Dimensions
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110100622
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02) Betrieb und Entw.d.ANKA Beaml.u.Nutzers.
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 98
Seiten 021912/1-3
Nachgewiesen in Scopus
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