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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3543842
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Zitationen: 6
Web of Science
Zitationen: 6

Grazing-incidence x-ray diffraction from GaN epitaxial layers with threading dislocations

Barchuk, M.; Holy, V.; Miljevic, B.; Krause, B.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110100622
HGF-Programm 55.51.10 (POF II, LK 02)
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 98
Seiten 021912/1-3
Nachgewiesen in Scopus
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