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Combining high time and angular resolutions : time-resolved X-ray powder diffraction using a multi-channel analyser detector

Choe, H.; Gorfman, S.; Hinterstein, M.; Ziolkowski, M.; Knapp, M.; Heidbrink, S.; Vogt, M.; Bednarcik, J.; Berghäuser, A.; Ehrenberg, H.; Pietsch, U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898, 1600-5767
KITopen ID: 110100908
HGF-Programm 37.01.03; LK 01
Erschienen in Journal of applied crystallography
Band 48
Seiten 970-974
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