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X-ray grating interferometry at photon energies over 180 keV

Ruiz-Yaniz, M.; Koch, F. 1; Zanette, I.; Rack, A.; Meyer, P. 1; Kunka, D. ORCID iD icon 1; Hipp, A.; Mohr, J. 1; Pfeiffer, F.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4917293
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Zitationen: 23
Web of Science
Zitationen: 21
Dimensions
Zitationen: 21
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 110100968
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Erschienen in Applied physics letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 106
Seiten 151105/1-4
Nachgewiesen in Scopus
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