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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevA.91.033803
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Zitationen: 6
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Zitationen: 6

X-ray-refractive-index measurements at photon energies above 100 keV with a grating interferometer

Ruiz-Yaniz, M.; Zanette, I.; Rack, A.; Weitkamp, T.; Meyer, P.; Mohr, J.; Pfeiffer, F.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0556-2791, 1050-2947, 1094-1622, 2469-9926, 2469-9934
KITopen ID: 110100969
HGF-Programm 43.23.02; LK 01
Erschienen in Physical review / A
Band 91
Seiten 033803/1-5
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