X-ray-refractive-index measurements at photon energies above 100 keV with a grating interferometer
Ruiz-Yaniz, M.; Zanette, I.; Rack, A.; Weitkamp, T.; Meyer, P.
1; Mohr, J. 1; Pfeiffer, F.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Mohr, J. 1; Pfeiffer, F.1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0556-2791, 1050-2947, 1094-1622, 2469-9926, 2469-9934 KITopen-ID: 110100969 |
| HGF-Programm | 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics |
| Erschienen in | Physical review / A |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 91 |
| Seiten | 033803/1-5 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Web of Science Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |