KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Observing the morphology of single-layered embedded silicon nanocrystals by using temperature-stable TEM membranes

Gutsch, S.; Hiller, D.; Laube, J.; Zacharias, M.; Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.3762/bjnano.6.99
KITopen ID: 110101184
HGF-Programm 49.02.01; LK 02
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 6
Seiten 964-970
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page