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Mechanical characterization between room temperature and 1000⁰C of SiC free-standing thin films by a novel high-temperature micro-tensile setup

Leisen, D.; Rusanov, R.; Rohlfing, F.; Fuchs, T.; Ebert, C.; Riesch-Oppermann, H.; Kraft, O.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4919765
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Zitationen: 9
Web of Science
Zitationen: 7
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Zitationen: 9
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748, 1089-7623, 1527-2400
KITopen-ID: 110101440
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Erschienen in Review of scientific instruments
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 86
Heft 5
Seiten 055104/1-10
Nachgewiesen in Scopus
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