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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4919765
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Zitationen: 6

Mechanical characterization between room temperature and 1000⁰C of SiC free-standing thin films by a novel high-temperature micro-tensile setup

Leisen, D.; Rusanov, R.; Rohlfing, F.; Fuchs, T.; Ebert, C.; Riesch-Oppermann, H.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110101440
HGF-Programm 43.12.03; LK 01
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 86
Seiten 055104/1-10
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