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Metal crack propagation monitoring by photoluminescence enhancement of quantum dots

Zhao, Z.; Luan, W.; Yin, S.; Brandner, J.J.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/AO.54.006498
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Zitationen: 7
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Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6935, 1539-4522, 1559-128X
KITopen-ID: 110102066
HGF-Programm 34.12.01 (POF III, LK 01) Multiphasen und thermische Prozesse
Erschienen in Applied optics
Verlag The Optical Society of America (OSA)
Band 54
Seiten 6498-6501
Nachgewiesen in Dimensions
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