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Metal crack propagation monitoring by photoluminescence enhancement of quantum dots

Zhao, Z.; Luan, W.; Yin, S.; Brandner, J.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikroverfahrenstechnik (IMVT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1364/AO.54.006498
KITopen ID: 110102066
HGF-Programm 34.12.01; LK 01
Erschienen in Applied Optics
Band 54
Seiten 6498-6501
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