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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/jacs.5b03114
Web of Science
Zitationen: 26

Characterization of a surface reaction by means of atomic force microscopy

Albrecht, F.; Pavlicek, N.; Herranz-Lancho, C.; Ruben, M.; Repp, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0002-7863, 1520-5126, 1943-2984
KITopen ID: 110102786
HGF-Programm 43.21.03; LK 01
Erschienen in Journal of the American Chemical Society
Band 137
Seiten 7424-7428
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