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X-ray total scattering investigation of Al$_{0.57}$Sn$_{0.43}$O$_{1.71}$ nanoparticles

Yavuz, M.; Knapp, M.; Indris, S.; Hinterstein, M.; Donner, W.; Ehrenberg, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898, 1600-5767
KITopen ID: 110103304
HGF-Programm 37.01.12; LK 01
Erschienen in Journal of applied crystallography
Band 48
Seiten 1699-1705
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