X-ray total scattering investigation of Al$_{0.57}$Sn$_{0.43}$O$_{1.71}$ nanoparticles
Yavuz, M. 1; Knapp, M.
1; Indris, S.
1; Hinterstein, M. 1; Donner, W.; Ehrenberg, H. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Indris, S.
1; Hinterstein, M. 1; Donner, W.; Ehrenberg, H. 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS) Helmholtz-Institut Ulm (HIU) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8898, 1600-5767 KITopen-ID: 110103304 |
| HGF-Programm | 37.01.12 (POF III, LK 01) Intercalation |
| Erschienen in | Journal of applied crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 48 |
| Seiten | 1699-1705 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |