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X-ray total scattering investigation of Al$_{0.57}$Sn$_{0.43}$O$_{1.71}$ nanoparticles

Yavuz, M.; Knapp, M.; Indris, S.; Hinterstein, M.; Donner, W.; Ehrenberg, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600576715017203
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898, 1600-5767
KITopen-ID: 110103304
HGF-Programm 37.01.12 (POF III, LK 01) Intercalation
Erschienen in Journal of applied crystallography
Verlag International Union of Crystallography
Band 48
Seiten 1699-1705
Nachgewiesen in Dimensions
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