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Polytypism in GaAs nanowires: Determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction

Köhl, M. 1; Schroth, P. 1; Minkevich, A. A. 1; Hornung, J. W. 1; Dimakis, E.; Somaschini, C.; Geelhaar, L.; Aschenbrenner, T. 2; Lazarev, S. 1; Grigoriev, D. 3; Pietsch, U.; Baumbach, T. 1,3
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600577514023480
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Zitationen: 17
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Dimensions
Zitationen: 17
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Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0909-0495, 1600-5775
KITopen-ID: 110103991
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Weitere HGF-Programme 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in Journal of synchrotron radiation
Verlag International Union of Crystallography
Band 22
Heft 1
Seiten 67-75
Nachgewiesen in Dimensions
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