Polytypism in GaAs nanowires: Determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction

Köhl, M.; Schroth, P.; Minkevich, A. A.; Hornung, J. W.; Dimakis, E.; Somaschini, C.; Geelhaar, L.; Aschenbrenner, T.; Lazarev, S.; Grigoriev, D.; Pietsch, U.; Baumbach, T.

doi:10.1107/S1600577514023480

Polytypism in GaAs nanowires: Determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction

Köhl, M. ¹; Schroth, P. ¹; Minkevich, A. A. ¹; Hornung, J. W. ¹; Dimakis, E.; Somaschini, C.; Geelhaar, L.; Aschenbrenner, T. ²; Lazarev, S. ¹; Grigoriev, D. ³; Pietsch, U.; Baumbach, T. ¹^,3
¹ Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
³ Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Zugehörige Institution(en) am KIT	ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA) Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2015
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0909-0495, 1600-5775 KITopen-ID: 110103991
HGF-Programm	56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Weitere HGF-Programme	54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in	Journal of synchrotron radiation
Verlag	International Union of Crystallography
Band	22
Heft	1
Seiten	67-75
Nachgewiesen in	Scopus Web of Science OpenAlex Dimensions

Repository KITopen

Polytypism in GaAs nanowires: Determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction