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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600577514023480
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Polytypism in GaAs nanowires: Determination of the interplanar spacing of wurtzite GaAs by X-ray diffraction

Köhl, M.; Schroth, P.; Minkevich, A.A.; Hornung, J.W.; Dimakis, E.; Somaschini, C.; Geelhaar, L.; Aschenbrenner, T.; Lazarev, S.; Grigoriev, D.; Pietsch, U.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110103991
HGF-Programm 56.03.20; LK 01
Erschienen in Journal of Synchrotron Radiation
Band 22
Seiten 67-75
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