Three-dimensional reciprocal space mapping with a two-dimensional detector as a low-latency tool for investigating the influence of growth parameters on defects in semipolar GaN
| Zugehörige Institution(en) am KIT | ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8898, 1600-5767 KITopen-ID: 110103996 |
| HGF-Programm | 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol. |
| Weitere HGF-Programme | 55.51.10 (POF I, LK 01) |
| Erschienen in | Journal of applied crystallography |
| Verlag | International Union of Crystallography |
| Band | 48 |
| Seiten | 1000-1010 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |