KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Three-dimensional reciprocal space mapping with a two-dimensional detector as a low-latency tool for investigating the influence of growth parameters on defects in semipolar GaN

Bauer, S.; Lazarev, S.; Bauer, M.; Meisch, T.; Caliebe, M.; Holy, V.; Scholz, F.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110103996
HGF-Programm 56.03.20; LK 01
Erschienen in Journal of Applied Crystallography
Band 48
Seiten 1000-1010
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page