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Three-dimensional reciprocal space mapping with a two-dimensional detector as a low-latency tool for investigating the influence of growth parameters on defects in semipolar GaN

Bauer, S.; Lazarev, S.; Bauer, M.; Meisch, T.; Caliebe, M.; Holy, V.; Scholz, F.; Baumbach, T.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1107/S1600576715009085
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Zitationen: 5
Web of Science
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8898, 1600-5767
KITopen-ID: 110103996
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01)
Erschienen in Journal of applied crystallography
Band 48
Seiten 1000-1010
Nachgewiesen in Scopus
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