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Matter-wave metrology as a complementary tool for mass spectrometry

Gerlich, S.; Gring, M.; Ulbricht, H.; Hornberger, K.; Tüxen, J.; Mayor, M.; Arndt, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/anie.200801942
KITopen ID: 110104676
HGF-Programm 43.02.02; LK 01
Erschienen in Angewandte Chemie - International Edition
Band 47
Seiten 6195-98
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