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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/anie.200801942
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Zitationen: 34

Matter-wave metrology as a complementary tool for mass spectrometry

Gerlich, S.; Gring, M.; Ulbricht, H.; Hornberger, K.; Tüxen, J.; Mayor, M.; Arndt, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110104676
HGF-Programm 43.02.02 (POF I, LK 01)
Erschienen in Angewandte Chemie - International Edition
Band 47
Seiten 6195-98
Nachgewiesen in Web of Science
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