Angular dependence of universal conductance fluctuations in noble-metal nanowires

Scheer, Elke; Loehneysen, Hilbert v.; Mirlin, Alexander D.; Woelfle, Peter; Hein, Herbert

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Theorie der Kondensierten Materie (TKM) Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1997
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110197
HGF-Programm	41.01.04 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in	Physical Review Letters
Band	78
Seiten	3362-65
Erscheinungsvermerk	Phys. rev. let. 78 (1997) S. 3362-3365.
Bemerkung zur Veröffentlichung	Sonderdrucknummer 98S91