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Angular dependence of universal conductance fluctuations in noble-metal nanowires

Scheer, Elke; Loehneysen, Hilbert v.; Mirlin, Alexander D.; Woelfle, Peter; Hein, Herbert


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Theorie der Kondensierten Materie (TKM)
Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110197
HGF-Programm 41.01.04 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Physical Review Letters
Band 78
Seiten 3362-65
Erscheinungsvermerk Phys. rev. let. 78 (1997) S. 3362-3365.
Bemerkung zur Veröffentlichung Sonderdrucknummer 98S91
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