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Particle characterization by projected area determination

Umhauer, Heinz; Gutsch, Andreas


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 111697
Erscheinungsvermerk Particle & particle syst. characterizat. 14 (1997) S. 105-115.
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